高加速壽命測(cè)試是什么

高加速壽命測(cè)試（Highly Accelerated Life Testing，簡(jiǎn)稱(chēng)HALT測(cè)試）是一種對(duì)電子和機(jī)械裝配件利用快速高、低溫變換的高環(huán)境應(yīng)力來(lái)揭示設(shè)計(jì)缺陷和不足的過(guò)程。高加速壽命測(cè)試的目的是在，短時(shí)間內(nèi)即可進(jìn)行產(chǎn)品的失效原因分析，可在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的早期階段識(shí)別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。

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